偏光应力仪测试原理

探测器 依分辨率高低档次由低**常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器，充气(He，Ne，Ar，Kr，Xe等)正比计数管器、HgI2晶体的探测器、半导体致冷SiPIN探测器、高纯硅晶体的探测器、高纯锗晶体的探测器、电致冷或着液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体的探测器、Ge(Li)锂漂移锗探测器等。 目前常用的是电致冷或液氮致冷Si(Li)锂漂移硅晶体的探测器、SiPIN探测器、高纯的硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。所以你要仪器的检出限好你就要看它了。

低档探测器有效检测元素数量少，对被测物质中微量元素较难检测，分辨率一般在700-1100eV，一般可分析材料基体中元素数量较少，元素间相邻较远，含量较高的单个元素。 称他们的仪器测试时间是3分钟，是出一个可靠的数据3分钟吗，还是减少测试条件，具体指减少滤光片的转换次数和livetime来达到减少测试时间。的确很多XRF的测试时间能达到3分钟，但出的数据是很差的。只有较少数仪器能达到这个水平。测试时间对RoHS这个行业也是很重要的，因为很多厂家的需检测的产品比较多，一天可能有300多个，甚至更多。如果购买了了一台低效率的XRF，你可能要再买几个才能满足你的测试量。